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Volumn NS-32, Issue 6, 1985, Pages

LOW FLUX LABORATORY TEST OF THE INTERNAL DISCHARGE MONITOR (IDM) EXPERIMENT INTENDED FOR CRRES.

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ELECTRONS; SATELLITES - ELECTRONIC EQUIPMENT;

EID: 0022204733     PISSN: 00189499     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
Times cited : (12)

References (5)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.