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Volumn 17, Issue 1, 1985, Pages 37-50

Japanese with English abstract;(Rietveld analysis of X-ray and neutron diffraction patterns.)

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EID: 0022193364     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.