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Volumn , Issue , 1984, Pages 2-9

EXPERIMENTAL MOS FAULT SIMULATION PROGRAM CSASIM.

(2)  Kawai, Masato a   Hayes, John P a  

a NONE

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CSASIM; DELAY FAULTS; DIGITAL MOS IC'S; MULTIPLE LOGIC; SIMULATION PROGRAMS; STUCK-AT-CONSTANTS;

EID: 0021197567     PISSN: 01467123     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1109/dac.1984.1585765     Document Type: Conference Paper
Times cited : (15)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.