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Volumn 26, Issue 9, 1981, Pages 1062-1067

ELECTRON-BEAM DIAGNOSTICS IN NITROGEN - SECONDARY PROCESSES.

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ELECTRON BEAMS; NITROGEN;

EID: 0019608897     PISSN: 00385662     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.