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Volumn 14, Issue 6, 1981, Pages 649-671

Electron interferometry and interference electron microscopy

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INTERFEROMETRY; MICROSCOPES, ELECTRON;

EID: 0019573186     PISSN: 00223735     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1088/0022-3735/14/6/001     Document Type: Review
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.