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Volumn 64, Issue 1, 1981, Pages 215-224

Dotierungseigenschaften von Eisen in Silizium

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SEMICONDUCTING SILICON;

EID: 0019539533     PISSN: 00318965     EISSN: 1521396X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/pssa.2210640123     Document Type: Article
Times cited : (102)

References (11)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.