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Volumn , Issue , 1979, Pages 18-21

CHARACTERIZATION OF THE ELECTRON MOBILITY IN THE INVERTED less than 100 greater than SI SURFACE.

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SEMICONDUCTOR DEVICES, MIS;

EID: 0018683243     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
Times cited : (184)

References (1)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.