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Volumn 50, Issue 10, 1979, Pages 6366-6372

Electron trapping in SiO2 at 295 and 77 °K

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DIELECTRIC MATERIALS; SEMICONDUCTOR DEVICES, MIS;

EID: 0018531802     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.325727     Document Type: Article
Times cited : (219)

References (12)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.