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Volumn 32, Issue 1-3, 1979, Pages 313-326

Oxygen-associated trapped-hole centers in high-purity fused silicas

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EID: 0018431344     PISSN: 00223093     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/0022-3093(79)90079-6     Document Type: Article
Times cited : (398)

References (44)
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    • 84916059628 scopus 로고    scopus 로고
    • E.J. Friebele, D.L. Griscom, M. Stapelbroek and R.A. Weeks, to be published.


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.