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Volumn 49, Issue 12, 1978, Pages 5997-6003

Thermal reemission of trapped electrons in SiO2

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ELECTRONS - EMISSION;

EID: 0018151899     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.324568     Document Type: Article
Times cited : (74)

References (33)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.