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Volumn , Issue , 1978, Pages 160-178

DEFECTS AND IMPURITIES IN THERMAL SiO2.

(1)  DiMaria, D J a  

a NONE

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SEMICONDUCTING FILMS - ION IMPLANTATION;

EID: 0018062167     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
Times cited : (177)

References (120)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.