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Volumn 28, Issue 1-2, 1976, Pages 77-83

Concentration profiles and sputtering yields measured by optical radiation of sputtered particles

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ARGON;

EID: 0017227867     PISSN: 00337579     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1080/00337577608233030     Document Type: Article
Times cited : (19)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.