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Volumn 47, Issue 5, 1976, Pages 1775-1779

Temperature distribution on thin-film metallizations

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INTEGRATED CIRCUITS;

EID: 0016949777     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.322890     Document Type: Article
Times cited : (16)

References (9)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.