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Volumn 47, Issue 3, 1976, Pages 1196-1198

Electron trapping by radiation-induced charge in MOS devices

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MOS DEVICES;

EID: 0016931014     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.322706     Document Type: Article
Times cited : (122)

References (16)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.