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Volumn 7, Issue 24, 1971, Pages 706-707

Frequency dependence of negative- capacitance effects observed in amorphous semiconductor thin- film devices

(2)  ALLISON J, a   DAWE VR, a  

a NONE

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SEMICONDUCTORS, FILM;

EID: 0015208699     PISSN: 00135194     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1049/el:19710484     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.