-
1
-
-
0012392952
-
-
Bruchez, M., Jr.; Moronne, M.; Gin, P.; Weiss, S.; Alivisatos, A. P. Science (Washington, D.C.) 1998, 281, 2013.
-
(1998)
Science (Washington, D.C.)
, vol.281
, pp. 2013
-
-
Bruchez Jr., M.1
Moronne, M.2
Gin, P.3
Weiss, S.4
Alivisatos, A.P.5
-
2
-
-
0005688053
-
-
Chan, W. C.; Nie, S. M. Science (Washington, D.C.) 1998, 281, 2013.
-
(1998)
Science (Washington, D.C.)
, vol.281
, pp. 2013
-
-
Chan, W.C.1
Nie, S.M.2
-
3
-
-
0347422610
-
-
Mattoussi, H.; Mauro, J. M.; Goldman, E. R.; Anderson, G. P.; Sundar, V. C.; Mikulec, F. V.; Bawendi, M. G. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 12141.
-
(2000)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.122
, pp. 12141
-
-
Mattoussi, H.1
Mauro, J.M.2
Goldman, E.R.3
Anderson, G.P.4
Sundar, V.C.5
Mikulec, F.V.6
Bawendi, M.G.7
-
4
-
-
0037192480
-
-
Huynh, W. U.; Dittmer, J. J.; Alivisatos, A. P. Science (Washington, D.C.) 2002, 295, 2425.
-
(2002)
Science (Washington, D.C.)
, vol.295
, pp. 2425
-
-
Huynh, W.U.1
Dittmer, J.J.2
Alivisatos, A.P.3
-
5
-
-
0034644601
-
-
Klimov, V. I.; Mikhailovsky, A. A.; Xu, S.; Malko, A.; Hollingsworth, J. A.; Leatherdale, C. A.; Eisler, H.; Bawendi, M. G. Science (Washington, D.C.) 2000, 290, 314.
-
(2000)
Science (Washington, D.C.)
, vol.290
, pp. 314
-
-
Klimov, V.I.1
Mikhailovsky, A.A.2
Xu, S.3
Malko, A.4
Hollingsworth, J.A.5
Leatherdale, C.A.6
Eisler, H.7
Bawendi, M.G.8
-
6
-
-
79955997290
-
-
Malko, A.; Mikhailovsky, A. A.; Petruska, M. A.; Hollingsworth, J. A.; Htoon, H.; Bawendi, M. G. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 1303.
-
(2002)
Appl. Phys. Lett.
, vol.81
, pp. 1303
-
-
Malko, A.1
Mikhailovsky, A.A.2
Petruska, M.A.3
Hollingsworth, J.A.4
Htoon, H.5
Bawendi, M.G.6
-
7
-
-
0037133073
-
-
Kazes, M.; Lewis, D. Y.; Ebenstein, Y.; Mokari, T.; Banin, U. Adv. Mater. 2002, 14, 317.
-
(2002)
Adv. Mater.
, vol.14
, pp. 317
-
-
Kazes, M.1
Lewis, D.Y.2
Ebenstein, Y.3
Mokari, T.4
Banin, U.5
-
8
-
-
0000522707
-
-
Kim, S. H.; Markovich, G.; Rezvani, S.; Choi, S. H.; Wang, K. L.; Heath, J. R. Appl. Phys. Lett. 1999, 74, 317.
-
(1999)
Appl. Phys. Lett.
, vol.74
, pp. 317
-
-
Kim, S.H.1
Markovich, G.2
Rezvani, S.3
Choi, S.H.4
Wang, K.L.5
Heath, J.R.6
-
9
-
-
0037154802
-
-
Tesster, N.; Medvedev, V.; Kazes, M.; Kan, S.; Banin, U. Science (Washington, D.C.) 2002, 295, 1506.
-
(2002)
Science (Washington, D.C.)
, vol.295
, pp. 1506
-
-
Tesster, N.1
Medvedev, V.2
Kazes, M.3
Kan, S.4
Banin, U.5
-
10
-
-
0033526997
-
-
Banin, U.; Cao, Y.; Katz, D.; Millo, O. Nature (London) 1999, 400, 542.
-
(1999)
Nature (London)
, vol.400
, pp. 542
-
-
Banin, U.1
Cao, Y.2
Katz, D.3
Millo, O.4
-
13
-
-
0001571691
-
-
Krauss, T. D.; Wise, F. W.; Tanner, D. B. Phys. Rev. Lett. 1996, 76, 1376.
-
(1996)
Phys. Rev. Lett.
, vol.76
, pp. 1376
-
-
Krauss, T.D.1
Wise, F.W.2
Tanner, D.B.3
-
16
-
-
0000988395
-
-
Olkhovets, A.; Hsu, R.-C.; Lipovskii, A.; Wise, F. W. Phys. Rev. Lett. 1998, 81, 3539.
-
(1998)
Phys. Rev. Lett.
, vol.81
, pp. 3539
-
-
Olkhovets, A.1
Hsu, R.-C.2
Lipovskii, A.3
Wise, F.W.4
-
18
-
-
0000761117
-
-
Lipovskii, A.; Kolobkova, E.; Petrikov, V.; Kang, I.; Olkhovets, A.; Krauss, T. D.; Thomas, M.; Silcox, J.; Wise, F. W.; Shen, Q.; Kycia, S. Appl. Phys. Lett. 1997, 71, 3406.
-
(1997)
Appl. Phys. Lett.
, vol.71
, pp. 3406
-
-
Lipovskii, A.1
Kolobkova, E.2
Petrikov, V.3
Kang, I.4
Olkhovets, A.5
Krauss, T.D.6
Thomas, M.7
Silcox, J.8
Wise, F.W.9
Shen, Q.10
Kycia, S.11
-
19
-
-
0035018208
-
-
Murray, C. B.; Sun, S.; Gaschler, W.; Doyle, H.; Betley, T. A.; Kagan, C. R. IBM J. Res. Dev. 2001, 45, 47.
-
(2001)
IBM J. Res. Dev.
, vol.45
, pp. 47
-
-
Murray, C.B.1
Sun, S.2
Gaschler, W.3
Doyle, H.4
Betley, T.A.5
Kagan, C.R.6
-
23
-
-
0037084684
-
-
Pokatilov, E. P.; Klimin, S. N.; Fomin, V. M.; Devreese, J. T.; Wise, F. W. Phys. Rev. B: Condens. Matter. 2002, 65, 075316.
-
(2002)
Phys. Rev. B: Condens. Matter.
, vol.65
, pp. 075316
-
-
Pokatilov, E.P.1
Klimin, S.N.2
Fomin, V.M.3
Devreese, J.T.4
Wise, F.W.5
-
25
-
-
0031270076
-
-
Dabbousi, B. O.; Rodriguez-Viejo, J.; Mikulec, F. V.; Heine, J. R.; Mattoussi, H.; Ober, R.; Jensen, K. F.; Bawendi, M. G. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 9463.
-
(1997)
J. Phys. Chem. B
, vol.101
, pp. 9463
-
-
Dabbousi, B.O.1
Rodriguez-Viejo, J.2
Mikulec, F.V.3
Heine, J.R.4
Mattoussi, H.5
Ober, R.6
Jensen, K.F.7
Bawendi, M.G.8
-
26
-
-
1842411963
-
-
Peng, X. G.; Schlamp, M. C.; Kadavanich, A. V.; Alivisatos, A. P. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 7019.
-
(1997)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.119
, pp. 7019
-
-
Peng, X.G.1
Schlamp, M.C.2
Kadavanich, A.V.3
Alivisatos, A.P.4
-
28
-
-
0037126458
-
-
Since the submission of this paper, we have learned that a detailed calculation of dielectric screening does account quantitatively for the ∼0.1 μs fluorescence decay times: Wehrenberg, B. L.; Wang, C.; Guyot-Sionnest, P. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 10634.
-
(2002)
J. Phys. Chem. B
, vol.106
, pp. 10634
-
-
Wehrenberg, B.L.1
Wang, C.2
Guyot-Sionnest, P.3
|