Tin passivation by copper in dental amalgams

Comptes Rendus de l'Academie des Sciences - Series IIc: Chemistry

Volumn 3, Issue 5, 2000, Pages 379-385

  Fovet, Yannick ^a   Gal, Jean Yves ^a  

^a UNIV MONTPELLIER   (France)

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Amalgames; Corrosion; Cuivre; tain; Thermodynamique; Thiocyanates

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EID: 0012387336     PISSN: 13871609     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S1387-1609(00)01147-6     Document Type: Article

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