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Volumn 65, Issue 4, 1998, Pages 131-136

Telecentric systems for optical measurement and testing;Telezentrische Systeme für die optische Meß- Und Prüftechnik

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EID: 0011605451     PISSN: 01718096     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.