Highly-resolved measurement of extended technical surfaces with scalable topometry;Hochauflösende vermessung ausgedehnter technischer oberflächen mit skalierbarer topometrie

Technisches Messen

Volumn 66, Issue 11, 1999, Pages 413-428

  Osten, Wolfgang ^a   Andrä, Peter ^a   Kayser, Daniel ^a  

^a BIAS BREMER INSTITUT FÜR ANGEWANDTE STRAHLTECHNIK GMBH   (Germany)

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CONSISTENT ANALYSIS; DEPTH RESOLUTION; FEATURE EXTRACTION METHODS; FRACTAL GEOMETRY; MEASUREMENT TECHNIQUES; REGIONS OF INTEREST; SURFACE FEATURE; TECHNICAL SURFACES;

FEATURE EXTRACTION;

FRACTALS;

EID: 0011259975     PISSN: 01718096     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article

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