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Volumn 54, Issue 1, 1996, Pages 286-290

Temperature dependence of the phonon broadening of the Si 2p XPS line

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EID: 0011157615     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.54.286     Document Type: Article
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References (26)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.