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Volumn 42, Issue 1, 1999, Pages 94-99

A two-wave X-ray reflectometer

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EID: 0010838229     PISSN: 00204412     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.