Correction of STM tip convolution effects in particle size and distance determination of metal-C:H films

Fresenius' Journal of Analytical Chemistry

Volumn 358, Issue 1-2, 1997, Pages 341-344

  Schiffmann, Kirsten I ^a   Fryda, Matthias ^a   Goerigk, Günther ^b   Lauer, Rolf ^c   Hinze, Peter ^c  

^a FRAUNHOFER INSTITUTE FOR SURFACE ENGINEERING AND THIN FILMS IST   (Germany)

^b FORSCHUNGSZENTRUM JÜLICH   (Germany)

^c PHYSIKALISCH TECHNISCHE BUNDESANSTALT   (Germany)

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EID: 0010479648     PISSN: 09370633     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1007/s002160050424     Document Type: Article

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