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Volumn 84, Issue 9, 1998, Pages 5057-5059

Noise characteristics of radio frequency sputtered amorphous silicon carbide films

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EID: 0010271980     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.368798     Document Type: Article
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References (10)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.