Transmission electron microscopy investigation of Co thin films on GaAs(001)

Applied Physics Letters

Volumn 75, Issue 3, 1999, Pages 346-348

  Mangan, M A ^a   Spanos, G ^a   Ambrose, T ^a   Prinz, G A ^a  

^a NAVAL RESEARCH LABORATORY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0009620040     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.124370     Document Type: Article

References (12)

1. M. N. Baibich, J. M. Broto, A. Fert, F. N. V. Dau, F. Petroff, P. Etienne, G. Creuzet, A. Friederich, and J. Chazelas, Phys. Rev. Lett. 61, 2472 (1988).
2. S. S. P. Parkin, Phys. Rev. Lett. 71, 1641 (1993).
3. G. A. Prinz, Phys. Rev. Lett. 54, 1051 (1985).
4. F. Xu, J. J. Joyce, M. W. Ruckman, H.-W. Chen, F. Boscherini, D. M. Hill, S. A. Chambers, and J. H. Weaver, Phys. Rev. B 35, 2375 (1987).
5. Y. U. Idzerda, W. T. Elam, B. T. Jonker, and G. A. Prinz, Phys. Rev. Lett. 62, 2480 (1989).
6. J. A. C. Bland, R. D. Bateson, P. C. Riedi, R. G. Graham, H. J. Lauter, J. Penfold, and C. Shackleton, J. Appl. Phys. 69, 4989 (1991).
7. S. J. Blundell, M. Gester, J. A. C. Bland, C. Daboo, E. Gu, M. J. Baird, and A. J. R. Ives, J. Appl. Phys. 73, 5948 (1993).
8. E. Gu, M. Gester, R. J. Hicken, C. Daboo, M. Tselepi, S. J. Gray, J. A. C. Bland, L. M. Brown, T. Thomson, and P. C. Riedi, Phys. Rev. B 52, 14704 (1995).
9. Y. Z. Wu, H. F. Ding, C. Jing, D. Wu, G. L. Liu, V. Gordon, G. S. Dong, X. F. Jin, S. Zhu, and K. Sun, Phys. Rev. B 57, 11935 (1998).
10. A. Y. Liu and D. J. Singh, J. Appl. Phys. 73, 6189 (1993).
11. C. J. Palmstrom, C. C. Chang, A. Yu, G. J. Galvin, and J. W. Mayer, J. Appl. Phys. 62, 3755 (1987).
12. J. C. Bravman and R. Sinclair, J. Electron Microsc. Tech. 1, 53 (1984).