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Volumn 75, Issue 10, 1994, Pages 5186-5190

Influence of carrier energy quantization on threshold voltage of metal-oxide-semiconductor transistor

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EID: 0009050237     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.355766     Document Type: Article
Times cited : (25)

References (8)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.