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Volumn 49, Issue 16, 1986, Pages 1025-1027

Determination of gap state density in polycrystalline silicon by field-effect conductance

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EID: 0008957105     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.97460     Document Type: Article
Times cited : (179)

References (18)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.