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0027850961
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(a) Eimori, T.; Ohno, Y.; Kimura, H.; Matsufusa, J.; Kishimura, S.; Yoshida, A.; Sumitani, H.; Maruyama, T.; Hayashide, Y.; Moriizumi, K.; Katayama, T.; Asakura, M.; Horikawa, T.; Shibano, T.; Itoh, H.; Sato, K.; Namba, K.; Nishimura, T.; Sato, S.; Miyoshi, H. Tech. Dig. IEDM 1993, 631.
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(1993)
Tech. Dig. IEDM
, vol.631
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Eimori, T.1
Ohno, Y.2
Kimura, H.3
Matsufusa, J.4
Kishimura, S.5
Yoshida, A.6
Sumitani, H.7
Maruyama, T.8
Hayashide, Y.9
Moriizumi, K.10
Katayama, T.11
Asakura, M.12
Horikawa, T.13
Shibano, T.14
Itoh, H.15
Sato, K.16
Namba, K.17
Nishimura, T.18
Sato, S.19
Miyoshi, H.20
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2
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0028511732
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No. 9B
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(b) Kawahara, T.; Yamamuka, M.; Makita, T.; Naka, J.; Yuuki, A.; Mikami, N.; Ono, K. Jpn. J. Appl. Phys. 1994, 33(pt. 1, No. 9B), 5129.
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(1994)
Jpn. J. Appl. Phys.
, vol.33
, Issue.1 PT
, pp. 5129
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Kawahara, T.1
Yamamuka, M.2
Makita, T.3
Naka, J.4
Yuuki, A.5
Mikami, N.6
Ono, K.7
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, pp. 1955
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Hendricks, W.C.1
Desu, S.B.2
Peng, C.H.3
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0027810982
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(1993)
Mat. Res. Soc. Symp. Proc.
, vol.310
, pp. 241
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Hendricks, W.C.1
Desu, S.B.2
Si, J.3
Peng, C.H.4
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0027812141
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(1993)
Mat. Res. Soc. Symp. Proc.
, vol.310
, pp. 223
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De Keijser, M.1
Veldhoven, V.2
Dormans, G.J.M.3
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10
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0027844768
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(1993)
J. Mat. Res. Soc. Sym. Proc.
, vol.310
, pp. 235
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Gao, Y.1
Bai, G.2
Merkle, K.L.3
Chang, H.L.M.4
Lam, D.5
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11
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0028513239
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No. 9B
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(1994)
Jpn. J. Appl. Phys.
, vol.33
, Issue.1 PART
, pp. 5119
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Kimura, T.1
Yamauchi, H.2
Machida, H.3
Kokubun, H.4
Yamada, M.5
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0026925006
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No. 9B
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(1992)
Jpn. J. Appl. Phys.
, vol.31
, Issue.1 PART
, pp. 2995
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Yamazaki, H.1
Tsuyama, T.2
Kobayashi, I.3
Sugimori, Y.4
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0026926813
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No. 9B
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(b) Nakai, T.; Tabuchi, T.; Sawado, Y.; Kobayashi, I.; Sugimori, Y. Jpn. J. Appl. Phys. 1992, 31(pt. 1, No. 9B), 2992.
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(1992)
Jpn. J. Appl. Phys.
, vol.31
, Issue.1 PART
, pp. 2992
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Nakai, T.1
Tabuchi, T.2
Sawado, Y.3
Kobayashi, I.4
Sugimori, Y.5
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Stauf, G.T.3
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