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Volumn 91, Issue 5, 1997, Pages 1009-1014

Scanning force microscopy on laser ablated silicon nitride films

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EID: 0006019030     PISSN: 05874246     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.12693/APhysPolA.91.1009     Document Type: Article
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References (5)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.