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Volumn 60, Issue 5, 1999, Pages 4150-4152

Beam-laser lifetime measurements for some selected levels in singly ionized thulium

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EID: 0005823819     PISSN: 10502947     EISSN: 10941622     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevA.60.4150     Document Type: Article
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References (13)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.