Comment on "temperature limits on infrared detectivities of InAs/InxGa1-xSb superlattices and bulk Hg1-xCdxTe" [J. Appl. Phys. 74, 4774 (1993)]

Journal of Applied Physics

Volumn 80, Issue 4, 1996, Pages 2542-2544

  Piotrowski, J ^a   Rogalski, A ^b  

^a VIGO SYSTEM S A   (Poland)

^b MILITARY UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Poland)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0005568923     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.363043     Document Type: Review

References (26)

1. P. M. Young, C. H. Grein, H. Ehrenreich, and R. H. Miles, J. Appl. Phys. 74, 4774 (1993).
2. G. M. Williams, J. Appl. Phys. 77, 4153 (1995).
3. C. H. Grein, M. E. Flatte, H. Ehrenreich, and R. H. Miles, J. Appl. Pyhys. 77, 4156 (1995).
4. C. T. Elliott, Semicond. Sci. Technol. 5, S30 (1990).
5. C. T. Elliott, in Handbook on Semiconductors, edited by C. Hilsum (North-Holland, Amsterdam, 1993), Vol. 4, p. 841.
6. J. Piotrowski, in Infrared Photon Detectors, edited by A. Rogalski (SPIE Optical Engineering Bellingham, 1995), pp. 391-493.
7. J.Pitrowski, W. Gawron, and Z. Djuric, Opt. Eng. 33, 1413 (1994).
8. A. Rogalski and R. Ciupa, J. Appl. Phys. 77, 3503 (1995).
9. V. C. Lopes, A. J. Syllaios, and M. C. Chem. Semicond. Sci. Technol. 8, 824 (1983).
10. R. G. Humpreys, Infrared Phys. 23, 171 (1983).
11. R. G. Humpreys, Infrared Phys. 26, 337 (1986).
12. W. Van Roosbroeck and W. Shockley, Phys. Rev. 94, 1558 (1954).
13. T. N. Casselman and P. E. Petersen, Solid State Commun. 33, 615 (1980).
14. G. Destefanis, J. Cryst. Growth 86, 700 (1988).
15. L. O. Bubulac, J. Cryst. Growth 86, 723 (1988).
16. G. Destefanis and J. P. Chamonal, J. Electron. Mater. 22, 1027 (1993).
17. G. N. Pultz, P. W. Norton, E. E. Krueger, and M. B. Reine, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 1724 (1991).
18. C. C. Wang, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 1740 (1991).
19. R. E. DeWames, J. M. Arias, L. J. Kozlowski, and G. M. Williams, Proc. SPIE 1735, 3 (1992).
20. T. Tung, L. V. DeArmond, R. F. Herald, P. E. Herning, M. H. Kalisher, D. A. Olson, R. F. Risser, A. P. Stevens, and S. J. Tighe, Proc. SPIE 1735, 109 (1992).
21. J. M. Arias, J. G. Pasko, M. Zandian, S. H. Shin, G. M. Williams, L. O. Bubulac, R. E. DeWames, and W. E. Tennant, Appl. Phys. Lett. 62, 976 (1993).
22. S. M. Johnson, J. A. Vigil, J. B. James, C. A. Cockrum, W. H. Konkel, M. H. Kalisher, R. F. Risser, T. Tung, W. J. Hamilton, W. L. Ahlgren, and J. M. Myrosznyk, J. Electron. Mater. 22, 835 (1993).
23. M. B. Reine, K. R. Maschboff, S. P. Tobin, P. W. Norton, J. A. Mroczkowski, and E. E. Kroeger, Semicond. Sci. Technol. 8, 788 (1993).
24. J. M. Arias, J. G. Pasko, M. Zandian, L. J. Kozlowski, and R. E. DeWames, Opt. Eng. 33, 1422 (1994).
25. A. Jóźwikowska, K. Jóźwikowski, and A. Rogalski, Infrared Phys. 31, 534 (1991).
26. E. R. Youngdale, J. R. Meyer, C. A. Hoffman, F. J. Bartoli, C. H. Grein, P. M. Young, H. Ehrenreich, R. H. Miles, and D. H. Chow, Appl. Phys. Lett. 64, 3160 (1994).