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Volumn 65, Issue 17, 1994, Pages 2177-2178

Electrical properties of thermal oxide grown using dry oxidation on p-type 6H-silicon carbide

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EID: 0005325568     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.112753     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.