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Volumn 13, Issue 2, 1983, Pages 333-346

Defect spectroscopy with positrons: A general calculational method

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EID: 0005275769     PISSN: 03054608     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1088/0305-4608/13/2/009     Document Type: Article
Times cited : (712)

References (38)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.