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Volumn 58, Issue 15, 1998, Pages 9876-9880

Interface roughness localization in quantum wells and quantum wires

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EID: 0005071677     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.58.9876     Document Type: Article
Times cited : (7)

References (9)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.