The effect of an electric-field gradient on avalanche noise

Applied Physics Letters

Volumn 75, Issue 19, 1999, Pages 2963-2965

  Plimmer, S A ^a   Tan, C H ^a   David, J P R ^a   Grey, R ^a   Li, K F ^a   Rees, G J ^a  

^a UNIVERSITY OF SHEFFIELD   (United Kingdom)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0004600440     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.125202     Document Type: Article

References (11)

1. R. J. McIntyre, IEEE Trans. Electron Devices 13, 164 (1966).
2. K. F. Li, D. S. Ong, J. P. R. David, G. J. Rees, R. C. Tozer, P. N. Robson, and R. Grey, IEEE Trans. Electron Devices 45, 2102 (1998).
3. C. Hu, K. A. Anselm, B. G. Streetman, and J. C. Campbell, Appl. Phys. Lett. 69, 3734 (1996).
4. K. M. Van Vliet and L. M. Rucker, IEEE Trans. Electron Devices 26, 746 (1979).
5. W. A. Lukaszek, A. Van Der Ziel, and E. R. Chenette, Solid-State Electron. 19, 57 (1976).
6. M. M. Hayat, B. E. A. Saleh, and M. C. Teich, IEEE Trans. Electron Devices 39, 546 (1992).
7. P. G. Scrobhaci and Ting-wei Tang, IEEE Trans. Electron Devices 41, 1197 (1994).
8. H. K. Jung, K. Taniguchi, and C. Hamaguchi, J. Appl. Phys. 79, 2473 (1996).
9. S. A. Plimmer, J. P. R. David, D. S. Ong, and K. F. Li, IEEE Trans. Electron Devices 46, 769 (1999).
10. D. S. Ong, K. F. Li, G. J. Rees, G. M. Dunn, J. P. R. David, and P. N. Robson, IEEE Trans. Electron Devices 45, 1804 (1998).
11. S. A. Plimmer, J. P. R. David, G. J. Rees, R. Grey, D. C. Herbert, D. R. Wight, and A. W. Higgs, J. Appl. Phys. 82, 1231 (1997).