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Volumn 70, Issue 1 II, 1999, Pages 787-789

On the mechanism of contamination of diagnostic windows in fusion devices

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EID: 0004574636     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1149315     Document Type: Article
Times cited : (5)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.