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Volumn 12, Issue 10, 1996, Pages 873-879

Assessment of local residual strain by electron backscatter patterns and nanoindentation

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EID: 0004211864     PISSN: 02670836     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1179/mst.1996.12.10.873     Document Type: Article
Times cited : (5)

References (21)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.