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Volumn 49, Issue 3, 1998, Pages 161-168

Microscopic properties of passive films on Ti and Zr from optical, electrochemical and SXM-measurements

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EID: 0004168361     PISSN: 09475117     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/(SICI)1521-4176(199803)49:3<161::AID-MACO161>3.0.CO;2-P     Document Type: Article
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References (16)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.