Correlation of buffer strain relaxation modes with transport properties of two-dimensional electron gases

Journal of Applied Physics

Volumn 80, Issue 12, 1996, Pages 6849-6854

  Goldman, R S ^a,e   Kavanagh, K L ^a   Wieder, H H ^a   Bobbins, V M ^b   Ehrlich, S N ^c   Feenstra, R M ^d,f  

^a UNIVERSITY OF CALIFORNIA   (United States)

^b HEWLETT PACKARD LABORATORIES   (United States)

^c PURDUE UNIVERSITY   (United States)

^d IBM RESEARCH   (United States)

^e UNIVERSITY OF MICHIGAN   (United States)

^f CARNEGIE MELLON UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0003917459     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.363751     Document Type: Article

References (33)

1. E. A Fitzgerald, Y. H. Xie, M. L. Green, D. Brasen, A. R. Kortan, J. Michel, Y. J. Mii, and B. E. Weir, Appl. Phys. Lett. 59, 811 (1991).
2. K. Ismail, M. Arafa, K. L. Saenger, J. O. Chu, and B. S. Meyerson, Appl. Phys. Lett. 66, 1077 (1995).
3. S. M. Lord, J. A. Trezza, M. C. Larson, B. Pezeshki, and J. S. Harris, Appl. Phys. Lett. 63, 806 (1993).
4. T. P. Chin, J. C. P. Chang, K. L. Kavanagh, C. W. Tu, P. D. Kirchner, and J. M. Woodall, Appl. Phys. Lett. 62, 2369 (1993).
5. N. C. Tien, J. Chen, J. M. Fernandez, and H. H. Wieder, IEEE Electron Device Lett. 13, 621 (1992).
6. I. J. Fritz, B. E. Hammons, A. J. Howard, R. M. Brennan, and J. A. Olsen, Appl. Phys. Lett. 62, 919 (1993).
7. K. Chang, P. Bhattacharya, and R. Lai, J. Appl. Phys. 67, 3323 (1990).
8. K Hausler, K. Eberl, and W. Sigle, Semicond. Sci. Technol. 10, 167 (1995).
9. V. Krishnamoorthy, Y. W. Lin, and R. M. Park, J. Appl. Phys. 72, 1752 (1992).
10. A. Sacedon, F. Gonzalez-Sanz, E. Calleja, E. Munoz, S. I. Molina, F. J. Pacheco, D. Araujo, R. Garcia, M. Lourenco, Z. Yang, P. Kidd, and D. Dunstan, Appl. Phys. Lett. 66, 3334 (1995).
11. D. J. Dunstan, P. Kidd, P. F. Fewster, N. L. Andrew, R. Grey, J. P. R. David, L. Gonzalez, Y. Gonzlez, A. Sacedon, and F. Gonzalez-Sanz, Appl. Phys. Lett. 65, 839 (1994).
12. R. S. Goldman, H. H. Wieder, K. L. Kavanagh, and S. N. Ehrlich, J. Vac. Sci. Technol. B 14, 3035 (1996).
13. R. S. Goldman, Ph.D. Thesis, University of California, San Diego, 1995.
14. R. M. Feenstra, M. A. Lutz, and M. Copel, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 355, 301 (1995).
15. I. Lo, W. C. Mitchel, M. Ahoujja, J. P. Cheng, A. Fathimulla, and H. Mier, Appl. Phys. Lett. 66, 754 (1995).
16. W. Kraak, B. Oelze, M. Kunzel, H. G. Bach, J. Bottget, V. Nakov, D. Schulze, and G. Gobsch, Phys. Status Solidi B 183, 437 (1994).
17. W. Klein, G. Bohm, M. Sexl, S. Grigull, H. Heiss, G. Trankle, and G. Weimann, J. Vac. Sci. Technol. B 12, 1306 (1994).
18. M. A. Tischler and B. D. Parker, Appl. Phys. Lett. 58, 1614 (1991).
19. T. Matsuoka, E. Kobayashi, K. Taniguchi, C. Hamaguchi, and S. Sasa, Jpn. J. Appl. Phys. 29, 2017 (1990).
20. S. Sasa, Y. Nakata, Y. Sugiyama, T. Fujii, and E. Miyauchi, J. Cryst. Growth 95, 189 (1989).
21. W. P. Hong, G. I. Ng, P. K. Bhattacharya, D. Pavlidis, S. Willing, and B. Das, J. Appl. Phys. 64, 1945 (1988).
22. H. T. Griem, K. H. Hsieh, I. J. D'Haenens, M. J. Delaney, J. A. Henige, G. W. Wicks, and A. S. Brown, J. Vac. Sci. Technol. B 5, 785 (1987).
23. K. H. Hsieh, H. Ohno, G. Wicks, and L. F. Eastman, Electron. Lett. 19, 160 (1983).
24. R. S. Goldman, J. Chen, K. L. Kavanagh, H. H. Wieder, V. M. Robbins, and J. N. Miller, Inst. Phys. Conf. Ser. 141, 313 (1995).
25. G. Bastard, Wave Mechanics Applied to Semiconductor Heterostructures (Wiley, New York, 1988), p. 212.
26. I. H. Tan, G. L. Snider, L. D. Chang, and E. L. Hu, J. Appl. Phys. 68, 4071 (1990).
27. P. N. Brounkov, T. Benyattou, G. Guillot, and S. A. Clark, J. Appl. Phys. 77, 240 (1994).
28. S. Adachi, J. Appl. Phys. 53, 8775 (1982).
29. J. E. Ayers and S. K. Ghandhi, J. Cryst. Growth 113, 430 (1991).
30. P. B. Hirsch, in Progress in Metal Physics, edited by B. Chalmers and R. King (Pergamon, London, 1956), p. 236.
31. E. Koppensteiner, A. Schuh, G. Bauer, V. Holy, G. P. Watson, and E. A. Fitzgerald, J. Phys. D 28, A114 (1995).
32. J. M. Woodall, G. D. Pettit, T. N. Jackson, and C. Lanza, Phys. Rev. Lett. 51, 1783 (1983).
33. D. Monroe, Y. H. Xie, E. A. Fitzgerald, P. J. Silverman, and G. P. Watson, J. Vac. Sci. Technol. B 11, 1731 (1993).