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Volumn 14, Issue 2, 1996, Pages 738-743

Investigation of low temperature SiO2 plasma enhanced chemical vapor deposition

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EID: 0003639602     PISSN: 10711023     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1116/1.588707     Document Type: Article
Times cited : (63)

References (24)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.