Effect of interfacial roughness correlation on X-ray diffraction in multilayer structures

Kristallografiya

Volumn 42, Issue 5, 1997, Pages 809-817

  Bushuev, V A ^a   Kozak, V V ^a  

^a NONE

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0003332227     PISSN: 00234761     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article

References (34)

1. Parratt L.G. // Phys. Rev. 1954. V. 95. No 2. P. 359.
2. Ishikawa T., Iida A., Matsushita T. // Nucl. Instr. Meth. A. 1986. V. 246. No 2. P. 348.
3. Andreev A.V., Michette A.G., Renwick A. // J. Mod. Opt. 1988. V. 35. No 10. P. 1667.
4. Bruson A., Dufour C., George B. et al. // Solid State Commun. 1989. V. 71. No 12. P. 1045.
5. Savage D.E., Kleiner J., Schimke N. et al. // J. Appl. Phys. 1991. V.69. No 3. P. 1411.
6. Kortright J.B. // J. Appl. Phys. 1991. V. 70. No 7. P. 3620.
7. Jiang X., Metzger T.H., Peisl J. // Appl. Phys. Lett. 1992. V. 61. No 8. P. 904.
8. Sinha S.K., Sirota E.B., Garoff S., Stanley H.B. // Phys. Rev. B. 1988. V. 38. No 4. P. 2297.
9. Weber W., Lengeler B. // Phys. Rev. B. 1992. V. 46. No 12. P. 7953.
10. Stearns D.G. // J. Appl. Phys. 1992. V. 71. No 9. P. 4286.
11. Phang Y.H., Kariotis R., Savage D.E., Lagally M.G. // J. Appl. Phys. 1992. V. 72. No 10. P. 4627.
12. Spiller E., Stearns D., Krumrey M. // J. Appl. Phys. 1993. V. 74. No 1. P. 107.
13. Holy V., Kubena J., Ploog K. // Phys. Status Solidi B. 1990. V. 162. No 2. P. 347.
14. Payne A.P., Clemens B.M. // Phys. Rev. B. 1993. V. 47. No 4. P. 2289.
15. Phang Y.H., Savage D.E., Kariotis R., Lagally M.G. // J. Appl. Phys. 1993. V. 74. No 5. P. 3181.
16. Ming Z.H., Krol A., Soo Y.L. et al. // Phys. Rev. B. 1993. V. 47. No 23. P. 16373.
17. Holy V., Baumbach T. // Phys. Rev. B. 1994. V. 49. No 15. P. 10668.
18. Sinha S.K. // J. Phys. III France. 1994. V. 4. No 9. P. 1543.
19. Schlomka J.-P., Tolan M., Schwalowsky L. et al. // Phys. Rev. B. 1995. V. 51. No 4. P. 2311.
20. Edwards S.F., Wilkinson D.R. // Proc. Roy. Soc. (London). A. 1982. V. 381. No 1. P. 17.
21. Savage D.E., Schimke N., Phang Y.-H. et al. // J. Appl. Phys. 1992. V. 71. No 7. P. 3283.
22. Savage D.E., Phang Y.-H., Rownd J.J. et al. // J. Appl. Phys. 1993. V. 74. No 10. P. 6158.
23. Salditt T., Metzger T.H., Brandt Ch. et al. // Phys. Rev. B. 1995. V. 51. No 9. P. 5617.
24. Holy V., Kubena J., Ohlidal I. et al. // Phys. Rev. B. 1993. V. 47. No 22. P. 15896.
25. Salditt T., Metzger T.H., Peisl J. // Phys. Rev. Lett. 1994. V. 73. No 16. P. 2228.
26. Kaganer V.M., Stepanov S.A., Kohler R. // Phys. Rev. B. 1995. V. 52. No 23. P. 16369.
27. Bloch R., Brugemann L., Press W. // J. Phys. D. 1989. V. 22. No 6. P. 1136.