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Volumn 87, Issue 9 III, 2000, Pages 5983-5985

Waveform control algorithm for rotational single sheet testers using system identification techniques

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EID: 0003177487     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.372587     Document Type: Article
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References (5)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.