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Volumn 344, Issue 1-2, 2001, Pages 13-17

X-ray diffraction characterization on the alignment degree of carbon nanotubes

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EID: 0003048158     PISSN: 00092614     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0009-2614(01)00671-6     Document Type: Article
Times cited : (333)

References (19)
  • 6
  • 19
    • 0043162467 scopus 로고    scopus 로고
    • unpublished results
    • A. Cao et al., unpublished results.
    • Cao, A.1


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.