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Volumn 25, Issue 1, 1974, Pages 50-52

Tunneling through thin MOS structures: Dependence on energy (E-κ)

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EID: 0002827241     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1655275     Document Type: Article
Times cited : (64)

References (10)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.