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Volumn 60, Issue 1, 1988, Pages 53-56

Origin of the Excess Capacitance at Intimate Schottky Contacts

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EID: 0002713076     PISSN: 00319007     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevLett.60.53     Document Type: Article
Times cited : (210)

References (18)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.