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Volumn 7, Issue 2 Part 1, 1997, Pages

Pottentialities and limitations of the XEOL-XAFS technique

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EID: 0002497047     PISSN: 11554339     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.