UV laser ablation - An improved method of sample preparation for microscopy

Holzforschung

Volumn 52, Issue 1, 1998, Pages 1-6

  Stehr, Micael ^a   Seltman, Joachim ^a   Johansson, Ingvar ^a  

^a ROYAL INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (Sweden)

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Ablation; Microscopy; Scanning electron microscopy; UV laser

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EID: 0002467139     PISSN: 00183830     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1515/hfsg.1998.52.1.1     Document Type: Article

References (3)

1. Lindhe, C. 1993. Swedish pat. appl. 931118.
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