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Volumn 37, Issue 1, 1996, Pages 43-48

High precision measurements of hyperfine structures near 790 nm of I2

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EID: 0001858959     PISSN: 01787683     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1007/s004600050007     Document Type: Article
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References (16)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.