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Volumn 74, Issue 9, 1997, Pages 1087-1089

Getting close with the instructional scanning tunneling microscope

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EID: 0001725797     PISSN: 00219584     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ed074p1087     Document Type: Article
Times cited : (14)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.