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Volumn 60, Issue 8, 1997, Pages 761-817

Trapped-ion and trapped-atom microwave frequency standards

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EID: 0001701787     PISSN: 00344885     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1088/0034-4885/60/8/001     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.