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Volumn 58, Issue 5, 1998, Pages 2387-2390

Avalanche ionization and dielectric breakdown in silicon with ultrafast laser pulses

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EID: 0001694001     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.58.2387     Document Type: Article
Times cited : (202)

References (14)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.